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【讲座通知】透射电镜中的电子能量损失谱(2)

发布日期:2015/11/30 17:01:16
  
讲座题目:透射电镜中的电子能量损失谱(2)

讲座人:汤栋(博士)

讲座时间:2015年12月3日(星期四)下午3:00-4:30

讲座地点:西安交通大学曲江校区西六楼409

讲座人简介:
       汤栋 博士,美国FEI电镜公司全球技术总监,著名TEM应用专家。北京大学信息科学与技术学院客座教授,西安交通大学客座教授,西安交通大学贾春林科学家工作室客座研究员,1982年北京大学物理系毕业,之后师从中科院物理所李芳华院士(硕士),英国剑桥大学(博士)。荣获2005年国家自然科学二等奖。

讲座内容:电子能量损失谱是电子显微技术中的一项重要的化学分析手段。相比较为常见的X光能谱技术,能量损失谱具有2-3数量级的更佳的能量分辨率。因此,能量损失谱不仅可以分析材料中的元素及其分布,而且可以分析元素的电子态,化学键,导带与价带电子性质等等能谱不能做的事情。此外,在球差矫正器的帮助下,电子显微镜可以做到原子量级的能损谱应用。相比其它分析技术,能量损失谱具有无可比拟的空间和能量分辨率的结合。讲座将详细介绍能量损失谱的原理和应用,并使用大量的实例说明能损谱在材料表征中的重要性。
  
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