讲座题目：透射电镜中的电子能量损失谱（2）
讲座人：汤栋（博士）
讲座时间：2015年12月3日（星期四）下午3:00-4:30
讲座地点：西安交通大学曲江校区西六楼409
讲座人简介：
汤栋 博士，美国FEI电镜公司全球技术总监，著名TEM应用专家。北京大学信息科学与技术学院客座教授，西安交通大学客座教授，西安交通大学贾春林科学家工作室客座研究员，1982年北京大学物理系毕业，之后师从中科院物理所李芳华院士（硕士），英国剑桥大学（博士）。荣获2005年国家自然科学二等奖。
讲座内容：电子能量损失谱是电子显微技术中的一项重要的化学分析手段。相比较为常见的X光能谱技术，能量损失谱具有2-3数量级的更佳的能量分辨率。因此，能量损失谱不仅可以分析材料中的元素及其分布，而且可以分析元素的电子态，化学键，导带与价带电子性质等等能谱不能做的事情。此外，在球差矫正器的帮助下，电子显微镜可以做到原子量级的能损谱应用。相比其它分析技术，能量损失谱具有无可比拟的空间和能量分辨率的结合。讲座将详细介绍能量损失谱的原理和应用，并使用大量的实例说明能损谱在材料表征中的重要性。
